DualScope FMP40校準步驟的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 |
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DualScope FMP40校準步驟
操作方法
測量過程中始終握住探頭袖部(grip sleeve) z 測量中保持垂直,穩(wěn)定,恒力地將探頭接觸到被測工件表面,默認情況下,隨后儀器會發(fā)出“滴” 聲,并且在屏幕上顯示出讀數(shù) z 提起探頭,測量下一個讀數(shù)
注:避免硬碰撞探頭不要在工件上方徘徊,這樣做會產(chǎn)生錯誤讀數(shù)
校準
校準是使用標(biāo)準片和底材對儀器進行調(diào)校,使測量結(jié)果準確的方法。
按 CAL 鍵
『S』:標(biāo)準偏差 『n』:測量次數(shù) 『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。
在底材上測量 4-5 次。 按 ENTER 鍵
『CAL-rat.1:23.70』: 在此將標(biāo)準片上的標(biāo)稱值通過∧、∨鍵輸入主機。 『ENTER: ∧∨』:在測量玩標(biāo)準片后按∧或∨鍵來輸入標(biāo)準值。
在底材上放置標(biāo)準片 1(箔 1)→進行幾次測量 如果做 2 點校準,則標(biāo)準片由薄到厚 按 ∧,∨ 設(shè)置箔片厚度→ENTER(一直按住數(shù)字會快速跳動) 按 2 次 ENTER,完成調(diào)校。
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